美國穩(wěn)科磁性元件分析儀WK3260B SERIES產品描述
? 頻率范圍 (20Hz - 3MHz)
? 0.1% 基本量測**度
? DC Bias(直流偏壓) *高可到125A(Option)
? 內建1Amp DC Bias
? 多頻率自動測試模式
? 多點DC Bias掃頻功能
? 可直接畫出加上Bias時各參數(shù)之曲線圖.具掃頻功能
? 可接Mesco view, Factory view軟件
? 涵蓋各式測量參數(shù) - 包含 Z(阻抗), L(電感), C(電容), Rac(交流電阻), Phase(相位), Q(質量因素), D(損耗因素), Rdc(直流電阻) 及 圈數(shù)比
可透過IEEE488連線控制
美國穩(wěn)科磁性元件分析儀WK3260B SERIES產品參數(shù)
量測參數(shù)
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L,Z,Rdc,C,Q,D,Rac,Angle
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頻率范圍
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20 Hz to 3 MHz Option
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頻率波段
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>1000
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量測電壓/電流
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1 mV to 10 V
50 uA to 200 mA
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內建式直流偏壓電流
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1 mA to 1 A
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絕緣測試(選購)
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100 V, 200 V, 500 V
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量測速度
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4 off (25/sec max)
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量測范圍
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R 0.01 mOhm to > 2 GOhms
L 0.1 nH to >1000H
C 5 fF to > 1 F
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基本量測速度
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L/Rac/Z/Cp ±0.25%
Q ±0.25 (Q+1/Q)%
D ±.0025 (1+ D2)
Turns ratio ±0.25%
Rdc ±0.5%
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使用電源
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230 V AC ±10%
115 V AC ±10%
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頻率
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50 to 400Hz
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耗電量
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400VA maximum
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顯示屏
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高亮度 LCD
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測試接點
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BNC 接頭 X 8
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測試線
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2線式 or 4線式(Kelvin)
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